1樓：匿名使用者
測量膜厚好像用x熒光光譜儀不行的，x熒光光譜儀是定性定量檢測的儀器，目前主要用於測量rosh，elv，等有害元素含量的，要測膜厚你可以找下膜厚測量儀，測厚儀，之類的儀器。
2樓：匿名使用者
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可精確定位測試點，重複定位精度小於0.005mm採用高度定位鐳射，可自動定位測試高度
定位鐳射確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊滑鼠可控制移動平臺，滑鼠點選的位置就是被測點高解析度探頭使分析結果更加精準
良好的射線遮蔽作用
測試口高度敏感性感測器保護
技術指標
3樓：匿名使用者
不會是買了機器不會用吧？呵呵！賣儀器的應該會教你的啊！
首先要知道被測量產品的底材、上面的覆蓋層的材質是什麼，覆蓋層有幾層，覆蓋層的先後覆蓋順序是什麼，然後在光譜儀器裡面自帶軟體裡面，找相應的底材跟覆蓋層順序的那一個測量軟體（如果找不到，要跟賣儀器的要針對這款材質的軟體），然後儀器上面校準基準片跟機器，把產品平穩放在測量平臺上面，調好鏡頭光線（配套的電腦螢幕顯示類似於放大鏡能很清楚的看清產品測量點就行了），然後點選測量，多測量幾個點，然後取中間值為結果！我們用的是德國菲希爾的20幾萬的那種，就是這樣測量的！小於1um微米的測量也是有誤差的！
4樓：奧林巴斯工業
鍍層測厚應用-操作秀
x熒光光譜儀如何設定測試鍍層厚度
5樓：qq號
理論上講x熒光光譜儀是具備測試鍍層厚度功能的。因為測鍍層首先要有製造商開發的軟體支援才可以完成，這種技術也是一項比較複雜的技術，所以並不是每家生產的x熒光光譜儀都可以測的，即便有些廠家可以測，但也不一定能測好。如果你已經購買了儀器，沒有廠家的支援，自己是無法設定的。
我司從事此行業20多年，是國內技術比較成熟的生產廠家。
6樓：匿名使用者
元素分析範圍從硫(s)到鈾（u）。
一次可同時分析最多24個元素，五層鍍層。
分析檢出限可達2ppm，最薄可測試0.005μm。
分析含量一般為2ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變數非線性**程式
多次測量重複性可達0.1%
長期工作穩定性可達0.1%
度適應範圍為15℃至30℃。
電源: 交流220v±5v, 建議配置交流淨化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(w)×495(d)×545(h) mm樣品室尺寸：500(w)×350(d)×140(h) mm重量：
90kg精密二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動
7樓：
樓上的是正解，你要表達的應該是x熒光測厚儀，你想測的厚度看要求是什麼精度，是不是要用到這麼高的精度，只有到奈米級別的才用的到，要是測量到微米的話，只要用普通的塗層測厚儀就可以了，希望能幫到你。
8樓：美信檢測
塗鍍層檢測
目的：檢查塗覆、電鍍、化學鍍所形成鍍層厚度及其鍍層均勻性塗/鍍層產品來料厚度檢驗
方法：截面法（仲裁方法）
x射線熒光膜厚法
依據標準：
截面法：gb/t 6462-2005，astm b 487-85(2002)， astm b748-1990(2010)
x射線熒光膜厚法：astm b 568-98，gb/t 16921-2005，iso 3497
x射線熒光膜厚法的測試結果會存在一定誤差，如果追求精確資料，推薦截面法。
x熒光鍍層測厚儀的工作原理
9樓：武寄厹
以下是我查詢到的資料，希望能幫得到你。
若一個電子由軌道遊離，則其他能階的電子會自然的跳至他的位置，以達到穩定的狀態，此種不同能階轉換的過程可釋放出能量，即x-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同，所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。
下述可描述x-射線熒光的特性：若產生x-射線熒光是由於轉移一個電子進入k 軌道，一個k軌道上的電子已事先被遊離，另一個電子即代替他的地位，此稱之為k 輻射。不同的能階轉換出不同的能量，如kα輻射是電子由l軌道跳至k軌道的一種輻射，而kβ輻射是電子從m 軌道跳至k軌道的一種輻射，其間是有區別的。
若x-射線熒光是一個電子跳入l的空軌域，此種輻射稱為l輻射。同樣的l 輻射可劃分為lα 輻射，此是由m軌道之電子跳入l軌道及lβ 輻射，此是由n 軌道之電子跳入l 軌道中 。由於kβ輻射能量約為kα的11%，而lβ輻射能量較lα大約20%，所以以能量的觀點lα及lβ是很容易區分的。
原子的特性由原子序來決定，亦即質子的數目或軌道中電子的數目，即如圖所示特定的x-射線能量與原子序間的關係。k輻射較l輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差。
特定的x-射線可由比例計數器來偵測。當輻射撞擊在比例器後，即轉換為近幾年的脈波。電路輸出脈衝高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質所發出的x-射線可由其後的鑑別電路記錄。
使用x-射線熒光原理測厚，將被測物置於儀器中，使待測部位受到x-射線的照射。此時，特定x-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產生，而檢測系統將其轉換為成比例的電訊號，且由儀器記錄下來，測量x-射線的強度可得到鍍膜的厚度。
在有些情況，如：印刷線路板上的ic導線，接觸針及導體的零件等測量要求較高 ,一般而言，測量鍍膜厚度基本上需符合下述的要求：
1.不破壞的測量下具高精密度。
2.極小的測定面積。
3.中間鍍膜及素材的成份對測量值不產生影響。
4.同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜 。
5.同時測量雙合金的鍍膜厚及成份。
而x-射線熒光法就可在不受素材及不同中間膜的影響下得到高精密度的測量。
二.主要特點
1.無損、精確、快速測量各種電鍍層的厚度.
2.電鍍層可以是單層/雙層/三層
3.鍍金/鍍銀/鍍鎳/鍍銅等都可以測量
4.有電鍍液成份分析以及金屬成份分析等軟體
5.易操作/易維護
6.準直器程控交換系統 最多可同時裝配6種規格的準直器，程式交換控制
多種規格尺寸準直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
7.測量斑點尺寸
在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.15 x 0.15 mm(使用0.15 x 0.15 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.30 x 0.30mm準直器)
x射線螢光光譜法對待測樣品的要求 10
10樓：匿名使用者
材質必須均勻。你的待測元素不均勻的話，多的地方和少的地方差別會較大。因為xrf光譜儀入射光線一般較窄，直徑1-5微米，也就是說照射到樣品的區域會很小，所以不均勻樣品檢測會不準確，當然主要也是看不均勻程度。
你的交錯規律排列指的什麼？如果是一層高分子，一層無機物，在一層高分子一層無機物，並且每層的厚度一定（比如第一層高分子都是10微米厚）。這樣的可以在一定程度上看成是均勻的，但是用x熒光光譜儀測量還是有問題，因為x熒光透過不同物質有無限厚（某元素的x熒光透射不出來的厚度，原因是自吸收）的問題。
這樣誤差看你每層的厚度了，如果每層都很薄，比如幾個微米那麼影響會較小。如果每一層達到幾十比如50微米以上，那麼影響就會較大。
晶體成分沒什麼，只要是均勻分佈就可以，因為即便有分光等現象，也是等概率的，因為是均勻分佈。
11樓：qq號
我司生產的儀器對樣品沒什麼要求的，一線品牌。只要能放進去的樣品就可以測。
電鍍層測厚儀的熒光x射線儀檢測原理
12樓：兮兮碲圡
● 1.熒光x射線微小面積鍍層厚度測量儀的特徵
*可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
*可通過ccd攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。
*薄膜fp法軟體是標準配置，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量。此外，適用於無鉛焊錫的應用。
*備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。（sii專用）
● 2.測量原理
如圖1所示，物質經x射線或粒子射線照線後，由於吸收多餘的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多餘的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光x射線鍍層厚度測量或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
測定主機 (高度900mm,重125kg左右)
(1) 樣品室
sft9200可移動量: 220 (w) × 150(d) × 150(h) mm
sft9250可移動量: 400 (w) × 300(d) × 50(h) mm
sft9255可移動量: 400 (w) × 300(d) × 15 (h) mm
樣品種類: 固體，液體
檢測環境: 大氣
樣品觀察: 彩色ccd攝像頭
x射線安全機構: 樣品室蓋按鍵開啟，測樣時自動上鎖
安裝環境：通風良好，溫度10～35℃，溼度35～80%
(2) x射線發生部
照射方式: 由上往下照射（避免凹凸樣品不能測試）
x射線管 : w 靶
管電壓 : 45kv
管電流 : 1ma
冷卻方式: 空冷
一次濾波器: al固定
二次濾波器: co選配
照射區域(5個標準配置): 0.1,0.2,0.3mm 圓型
0.2×0.05 0.05×0.02mm 方型
(3) 檢測器
檢測器形式: 比例計數管
(4)儀器校正
自動校正（x射線強度，x射線能量）
（5）x-y-z軸全自動
X射線熒光光譜儀哪個好點，高階X射線熒光光譜儀的品牌怎麼選擇？
分析元素的話 美國熱電，德國斯派克，日本島津 精工 中國天瑞 納優科技 國內的便宜國外的貴，其實測量結果沒差多少 測鍍層的話 fisher和牛津的是最好的 如果是固定道的，基本國內的就可以，沒必要買進口的，後期售後非常麻煩。要是掃描道還是要進口的，國內還沒有相關的技術。我公司的固定道x射線熒光光譜儀...
三維熒光光譜儀測量的範圍是多少，三維熒光光譜儀測量的DOC範圍是多少？
你問的這個問題是關於三維熒光光譜儀的問題，那這是很專業性很強的東西，我們普通人接觸不到的。 共產主義小戰士 這個需要諮詢相關的專業人士。 斯君一舞百媚生 熒光光譜儀測量的doc，範圍是多少？這一個具體你就要去找一下這一個光譜儀的測量範圍了 人文漫步者 你說的這如果不測量儀的話，是禮物光的性質以及材料...
原子熒光光譜儀使用注意事項有哪些
heart浩皛 光度計相對簡單些，即自動化程度差，原理是一樣的 拉曼光譜儀器使用過程中有哪些注意事項 原子熒光光譜儀的基本介紹 阿儀網 原子熒光光度計利用惰性氣體氬氣作載氣，將氣態氫化物和過量氫氣與載氣混合後，匯入加熱的原子化裝置，氫氣和氬氣在特製火焰裝置中燃燒加熱，氫化物受熱以後迅速分解，被測元素...